テスト・ソケット

  

高性能各種IC用テスト・ソケット

  • 短納期
  • 高周波対応
  • 表面実装方式 着脱が簡単
  • 速い立上り/立下り時間
  • 小フットプリント
  • LSIのテスト/評価に最適

使用用途例 - ネットワークプロセッサ、RFデバイス、PCチップセット、802.11(a/b/g)用ICのテスト 等

<主な仕様> (印刷用はこちらからテストソケット主な仕様

 

 

パッケージタイプ

QFN40

QFP40

BGA40

BGA65

Grypper

LGA50

外観 

QFN40

 

QFP40

BGA40

BGA65

GRYPPER

LGA50

ピッチ

最小0.4mm

最小0.4mm

0.4 & 0.5mm 

0.65mm to 1.27mm 

0.4mm to 1.27

最小0.5mm

インダクタンス

自己

0.74nH @ 0.5mm pitch

0.88nH @ 0.5mm pitch

0.55nH @ 0.4mm pitch

0.63nH @ 1.0mm pitch

0.22nH @ 0.5mm pitch

0.96nH @ 0.8mm pitch

相互

0.082nH @ 0.5mm pitch

0.03nH @ 0.5mm pitch

0.106nH @ 0.4mm pitch

0.117nH @ 1.0mm pitch

0.112nH @ 0.5mm pitch

0.146nH @ 0.8mm pitch

容量

対グランド

0.22pF @ 0.5mm pitch

0.242pF @ 0.5mm pitch

0.239pF @ 0.4mm pitch

0.319pF @ 1.0mm pitch

0.102pF @ 0.5mm pitch

0.278pF @ 0.8mm pitch

ピン間

0.1pF @ 0.5mm pitch

0.043pF @ 0.5mm pitch

0.058pF @ 0.4mm pitch

0.056pF @ 1.0mm pitch

0.036pF @ 0.5mm pitch

0.030pF @ 0.8mm pitch

周波数帯域
(-1dB 挿入損失)

8.5GHz @ 0.5mm pitch

12.8GHz

38.1GHz

22.1GHZ

35.9GHz

17.5GHz

最大電流

4.0 Amps

4.0 Amps

2.5 Amps

4.0 Amps

2 Amps

2.5 Amps

接触抵抗

<20 milliohms

<20 milliohms

<25milliohms

<25milliohms

<25milliohms

<25milliohms

平均寿命

50k insertions

50k insertions

15k insertions

30-50k insertions

100 insertions

15k insertions

コンタクト圧/ピン

30-40 grams/contact

30-40 grams/contact

30-40 grams/contact

30-40 grams/contact

30-40 grams/contact

25-35 grams/contact

垂直摺動

0.15mm

0.15mm

0.15mm

0.15mm

45 grams/contact insertion force @ 0.65mm pitch 

0.25mm @ 0.8mm pitch

コンタクト形状
(拡大写真)

ts_cQFN
ts_cQFP

 BGA40_SIDE

 BGA65_SIDE

 GRYPPER_SIDE

 LGA50_SIDE

コンタクト形状
(断面図)

 QFN40_CT

 QFP40_SIDE

 

BGA40_CT

 BGA65_CT

 GRYPPER_CT

 LGA50_CT

 

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